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                    賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

                    • 更新時間:  2022-09-23
                    • 產品型號:  4035 273 12631
                    • 簡單描述
                    • 4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極 Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及先進自動化功能,和同類儀器相比,可提供最完整的解決方案。對于工業研發、質量控制和失效分析應用領域,需要一臺具有高分辨成像,廣泛的樣品兼容性,簡單易用的用戶界面的掃描電鏡,Prisma E是這類應用的理想選擇。
                    詳細介紹

                    圣賓儀器科技(上海)有限公司是一家專注于分析檢測行業的系統性供應商,一直致力于分析測試技術方面進口儀器的配件耗材供應,主要優勢經銷代理品牌:美國賽默飛世爾(ThermoFisher)原裝配件耗材(比如:ICP光譜,ICP-MS質譜,AAS原子吸收光譜, GC-MS氣質,LC-MS液質,ARL直讀光譜ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880),9800/9900X熒光光譜,同位素質譜,紅外光譜等儀器備件),珀金埃爾默(PerkinElmer)耗材,美國安捷倫(Agilent)耗材,美國沃特世(Waters)耗材,戴安(DIONEX)色譜耗材,島津(SHIMADZU)耗材,瑞士萬通(Metrohm),CEM耗材等。

                    4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

                     

                    賽默飛FEL 部分配件耗材

                    16830 離子源

                    4035 273 12631   拔出極

                    4035 273 6 7441 光闌

                    4035 272 35991 抑制極

                    4035 272 35971  拔出極

                    1058129   拔出極

                    1301684  Suppressor 抑制極

                    1096659 Aperture 光闌

                    1346158  PT

                     

                    環境掃描電鏡

                    Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及先進自動化功能,和同類儀器相比,可提供最完整的解決方案。對于工業研發、質量控制和失效分析應用領域,需要一臺具有高分辨成像,廣泛的樣品兼容性,簡單易用的用戶界面的掃描電鏡,Prisma E是這類應用的理想選擇。Prisma E是在前代Quanta SEM基礎上的又一次成功實踐。

                     

                    全面的性能,強大的附近擴展能力,以及結合Thermo Scientific ChemiSEM 技術所實現最直觀的元素分析能力,使Prisma E在任何行業或領域都能夠實現微米/亞微米級成像和分析。

                     4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

                    主要特點

                    觸手可及的元素信息

                    通過選配 ChemiSEM 技術和集成能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進行實時成分面分布以實現直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率,并獲取最完整的樣品信息。

                    出色的圖像質量

                    靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術,使Prisma E可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質量。且在每個操作模式下,都可實現二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像。

                    最大限度地減少樣品制備時間

                    低真空和 ESEM 功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析。

                    對自然狀態下的材料進行原位研究

                    憑借 Prisma E 的環境 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態下直接成像。

                    優異的分析能力

                    倉室支持最多安裝3 個 EDS 探測器,其中兩個EDS接口呈180° 對稱,并可安裝波長色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD,并可在低真空模式下實現高質量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。

                    易于使用

                    操作軟件具有用戶指南和撤消功能,可以使新手用戶進行高效的操作,也可極大減少專家級用戶的操作負荷。



                    規格

                    參數

                    · 分辨率在高真空、低真空和 ESEM 的 30 kV 下為 3.0 nm

                    ·  3 kV(BSED、樣品臺減速)下為 7.0 nm

                    標準檢測器

                    · ETD、低真空 SED (LVD)、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD

                    可選檢測器

                    · Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝像機、DBS、DBS-GAD、ESEM-GAD、STEM 3+、WetSTEM、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等

                    ChemiSEM 技術(可選)

                    · 可基于能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進行實時定量 元素面分布。包含點分析、線掃描、面分布及元素定量。

                    樣品臺減速(可選)

                    · -4,000 V 至 +50 V

                    低真空模式

                    · 高達 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2)

                    樣品臺

                    · 5軸馬達優中心樣品臺,110 x 110 mm2,105° 傾斜范圍。最大樣品重量:未傾斜位置,5 kg。

                    標準樣品支架

                    · 標準多樣品 SEM 支架可單獨安裝

                    · 在載物臺上,可容納多達 18 個標準樣品托 (? 12 mm),

                    · 無需工具即可安裝樣品

                    樣品倉

                    · 340 mm 內寬,12 個接口,最多可接三個 EDS 檢測器(兩個呈 180°對稱),并具有與共面 EDS共面的EBSD接口。

                    原位配件(可選)

                    · 軟件控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺

                    · 軟件控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺

                    · 軟件控制的 1,100°C 高真空熱臺

                    · 軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺

                    · 集成氣體注入系統:用于下列材料的電子束誘導沉積,最多支持2種氣體(其他配件可能限制可用的注氣系統 (GIS) 數量):

                    · 納米機械手

                    · 液氮致冷臺

                    · 電子探針/多探針臺

                     






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